Applications Et Métrologie À L'Échelle Nanométrique 2 : Systèmes De Mesure, Ingénierie Quantique Et Méthodes D'Optimisation Fiabiliste

de Pierre Richard Dahoo, Abdelkhalak El Hami e Philippe Pougnet 

Bertrand.pt - Applications Et Métrologie À L'Échelle Nanométrique 2 : Systèmes De Mesure, Ingénierie Quantique Et Méthodes D'Optimisation Fiabiliste
idioma: Francês
Editor: ISTE
Edição: janeiro de 2022
Formatos Disponíveis:
Portes
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Applications Et Métrologie À L'Échelle Nanométrique 2 : Systèmes De Mesure, Ingénierie Quantique Et Méthodes D'Optimisation Fiabiliste
ISBN:
9781784057947
Ano de edição:
01-2022
Editor:
ISTE
Idioma:
Francês
Páginas:
232
Tipo de Produto:
Livro
Classificação Temática:
EAN:
9781784057947
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