Applications And Metrology At Nanometer-Scale 2

Measurement Systems, Quantum Engineering And Rbdo Method

de Pierre-Richard Dahoo, Abdelkhalak El Hami e Philippe Pougnet 

Bertrand.pt - Applications And Metrology At Nanometer-Scale 2
idioma: Inglês
Editor: ISTE LTD AND JOHN WILEY & SONS INC
Edição: maio de 2021
177,61€
Esgotado ou não disponível

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eBook
Applications And Metrology At Nanometer-Scale 2
Measurement Systems, Quantum Engineering And Rbdo Method
ISBN:
9781786306876
Ano de edição:
05-2021
Editor:
ISTE LTD AND JOHN WILEY & SONS INC
Idioma:
Inglês
Dimensões:
163 x 247 x 22 mm
Encadernação:
Capa dura
Páginas:
288
Tipo de Produto:
Livro
EAN:
9781786306876
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