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Low Substrate Temperature Modeling Outlook Of Scaled N-Mosfet

de Nabil Shovon Ashraf 

Bertrand.pt - Low Substrate Temperature Modeling Outlook Of Scaled N-Mosfet
idioma: Inglês
Editor: MORGAN & CLAYPOOL PUBLISHERS
Edição: julho de 2018
52,73€
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Explores device parameters such as channel inversion carrier mobility and its characteristic evolution. This book is the first to illustrate that a single subthreshold slope value is erroneous and at lower gate voltage below inversion, subthreshold slope value exhibits a variation tendency on applied gate voltage below threshold.

Low Substrate Temperature Modeling Outlook Of Scaled N-Mosfet
de Nabil Shovon Ashraf 
ISBN:
9781681733852
Ano de edição:
07-2018
Editor:
MORGAN & CLAYPOOL PUBLISHERS
Idioma:
Inglês
Dimensões:
191 x 235 x 20 mm
Encadernação:
Capa mole
Páginas:
89
Tipo de Produto:
Livro
Classificação Temática:
Livros  >  Livros em Inglês  >  Outros

EAN:
9781681733852
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