Influence Of Temperature On Microelectronics And System Reliability

A Physics Of Failure Approach

de Pradeep (Auburn University, Alabama, Usa) Lall, Edward B. Hakim e Michael (University Of Maryland, College Park, Usa) Pecht 

Bertrand.pt - Influence Of Temperature On Microelectronics And System Reliability
idioma: Inglês
Editor: TAYLOR & FRANCIS LTD
Edição: junho de 2019
Portes
Grátis
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This book raises the level of understanding of thermal design criteria. It provides the design team with sufficient knowledge to help them evaluate device architecture trade-offs and the effects of operating temperatures.

Influence Of Temperature On Microelectronics And System Reliability
A Physics Of Failure Approach
ISBN:
9780367400972
Ano de edição:
06-2019
Editor:
TAYLOR & FRANCIS LTD
Idioma:
Inglês
Dimensões:
178 x 254 x 20 mm
Encadernação:
Capa mole
Páginas:
336
Tipo de Produto:
Livro
Classificação Temática:
EAN:
9780367400972
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