Influence Of Temperature On Microelectronics And System Reliability

A Physics Of Failure Approach

de Pradeep (Auburn University, Alabama, Usa) Lall, Edward B. Hakim e Michael (University Of Maryland, College Park, Usa) Pecht 

Bertrand.pt - Influence Of Temperature On Microelectronics And System Reliability
idioma: Inglês
Editor: TAYLOR & FRANCIS INC
Edição: abril de 1997
Portes
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This book provides a sound scientific basis for achieving system operation without reliability penalties at realistic steady state temperatures. guidelines for thermal derating of microelectronic devices.

Influence Of Temperature On Microelectronics And System Reliability
A Physics Of Failure Approach
ISBN:
9780849394508
Ano de edição:
04-1997
Editor:
TAYLOR & FRANCIS INC
Idioma:
Inglês
Dimensões:
178 x 254 x 21 mm
Encadernação:
Capa dura
Páginas:
328
Tipo de Produto:
Livro
Classificação Temática:
EAN:
9780849394508
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