Surface And Thin Film Analysis

A Compendium Of Principles, Instrumentation, And Applications

 

Bertrand.pt - Surface And Thin Film Analysis
idioma: Inglês
Editor: Wiley-VCH Verlag GmbH
Edição: abril de 2011
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Completely revised and updated, this second edition of a bestseller surveys and compares all techniques relevant for practical applications. New chapters cover such recent methods as SNOM, SERS, and laser ablation. With over 500 references and a list of equipment suppliers.

Surface And Thin Film Analysis
A Compendium Of Principles, Instrumentation, And Applications
ISBN:
9783527320479
Ano de edição:
04-2011
Editor:
Wiley-VCH Verlag GmbH
Idioma:
Inglês
Encadernação:
Capa dura
Páginas:
558
Tipo de Produto:
Livro
EAN:
9783527320479
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