Física

Single Electron Spin Measurements In Submicron Si Mos-Fets Random Telegraph Signal, Single Electron Spin Resonance

de Ming Xiao 

Bertrand.pt - Single Electron Spin Measurements In Submicron Si Mos-Fets Random Telegraph Signal, Single Electron Spin Resonance
idioma: Inglês
Editor: VDM Verlag
Edição: dezembro de 2008
69,47€
Esgotado ou não disponível
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Single Electron Spin Measurements In Submicron Si Mos-Fets Random Telegraph Signal, Single Electron Spin Resonance
de Ming Xiao 
ISBN:
9783836493758
Ano de edição:
12-2008
Editor:
VDM Verlag
Idioma:
Inglês
Encadernação:
Capa mole
Páginas:
124
Tipo de Produto:
Livro
Classificação Temática:
Livros  >  Livros em Inglês  >  Ciências Exatas e Naturais  >  Física

EAN:
9783836493758
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