Reliability Of Mems Testing Of Materials And Devices

Testing Of Materials And Devices

de Osamu Tabata 

Bertrand.pt - Reliability Of Mems Testing Of Materials And Devices
idioma: Inglês
Editor: Wiley-VCH Verlag GmbH
Edição: abril de 2013
104,23€
Esgotado ou não disponível

Now available as a softcover edition, this volume presents topical content from AMN, the only book series on microsystems technology, for practicing engineers as well as MSc and PhD students. The first part of the book is devoted to mechanical property evaluation methods and their contribution to reliability assessment.

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Reliability Of Mems Testing Of Materials And Devices
Testing Of Materials And Devices
ISBN:
9783527335015
Ano de edição:
04-2013
Editor:
Wiley-VCH Verlag GmbH
Idioma:
Inglês
Dimensões:
170 x 240 x 21 mm
Encadernação:
Capa mole
Páginas:
324
Tipo de Produto:
Livro
Classificação Temática:
EAN:
9783527335015
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