Next Generation Halt And Hass

Robust Design Of Electronics And Systems

de John J. Paschkewitz e Kirk A. Gray 

Bertrand.pt - Next Generation Halt And Hass
idioma: Inglês
Editor: JOHN WILEY & SONS INC
Edição: maio de 2016
105,51€
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Next Generation HALT and HASS presents a major paradigm shift from reliability prediction-based methods to discovery of electronic systems reliability risks.

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Next Generation Halt And Hass
Robust Design Of Electronics And Systems
de John J. Paschkewitz e Kirk A. Gray 
ISBN:
9781118700235
Ano de edição:
05-2016
Editor:
JOHN WILEY & SONS INC
Idioma:
Inglês
Dimensões:
170 x 244 x 20 mm
Encadernação:
Capa dura
Páginas:
296
Tipo de Produto:
Livro
EAN:
9781118700235
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