Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light

de Pierre-Richard (University Of Versailles Saint-Quentin, France) Dahoo, Abdelkhalak (Institut National Des Sciences Appliquees (Insa-Rouen), France) El Hami e Philippe (Vedecom Institute, Versailles, France) Pougnet 

Bertrand.pt - Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
idioma: Inglês
Editor: ISTE LTD AND JOHN WILEY & SONS INC
Edição: agosto de 2016
Portes
Grátis
10%
187,85€
Poupe 18,79€ (10%) Cartão Leitor Bertrand

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
ISBN:
9781848219366
Ano de edição:
08-2016
Editor:
ISTE LTD AND JOHN WILEY & SONS INC
Idioma:
Inglês
Encadernação:
Capa dura
Páginas:
320
Tipo de Produto:
Livro
EAN:
9781848219366
X
O QUE É O CHECKOUT EXPRESSO?

O ‘Checkout Expresso’ utiliza os seus dados habituais (morada e/ou forma de envio, meio de pagamento e dados de faturação) para que a sua compra seja muito mais rápida. Assim, não tem de os indicar de cada vez que fizer uma compra. Em qualquer altura, pode atualizar estes dados na sua ‘Área de Cliente’.

Para que lhe sobre mais tempo para as suas leituras.