Multilabel Classification

Problem Analysis, Metrics And Techniques

de Francisco Charte, Francisco Herrera, Maria J. Del Jesus e Antonio J. Rivera 

Bertrand.pt - Multilabel Classification
idioma: Inglês
Editor: Springer International Publishing AG
Edição: agosto de 2016
Portes
Grátis
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Multilabel Classification
Problem Analysis, Metrics And Techniques
ISBN:
9783319411101
Ano de edição:
08-2016
Editor:
Springer International Publishing AG
Idioma:
Inglês
Dimensões:
155 x 235 x 13 mm
Encadernação:
Capa dura
Páginas:
194
Tipo de Produto:
Livro
Classificação Temática:
EAN:
9783319411101
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