Modern Characterization Of Electromagnetic Systems And Its Associated Metrology

de Tapan K. Sarkar, Magdalena (Universidad Politecnica De Madrid, Spain) Salazar-Palma, Heng Chen e Ming Da Zhu 

Bertrand.pt - Modern Characterization Of Electromagnetic Systems And Its Associated Metrology
idioma: Inglês
Editor: JOHN WILEY & SONS INC
Edição: agosto de 2021
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Modern Characterization Of Electromagnetic Systems And Its Associated Metrology
ISBN:
9781119076469
Ano de edição:
08-2021
Editor:
JOHN WILEY & SONS INC
Idioma:
Inglês
Encadernação:
Capa dura
Páginas:
720
Tipo de Produto:
Livro
Coleção:
Ieee Press
Classificação Temática:
EAN:
9781119076469
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