Mitigating Process Variability And Soft Errors At Circuit-Level For Finfets

de Cristina Meinhardt, Alexandra Zimpeck, Ricardo Reis, Laurent Artola e Ricardo Reis 

Bertrand.pt - Mitigating Process Variability And Soft Errors At Circuit-Level For Finfets
idioma: Inglês
Editor: Springer Nature Switzerland AG
Edição: março de 2022
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transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells.

Mitigating Process Variability And Soft Errors At Circuit-Level For Finfets
ISBN:
9783030683702
Ano de edição:
03-2022
Editor:
Springer Nature Switzerland AG
Idioma:
Inglês
Dimensões:
155 x 235 x 20 mm
Encadernação:
Capa mole
Páginas:
131
Tipo de Produto:
Livro
EAN:
9783030683702
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