Measurement Techniques For Radio Frequency Nanoelectronics

de Pavel Kabos e T. Mitch Wallis 

Bertrand.pt - Measurement Techniques For Radio Frequency Nanoelectronics
idioma: Inglês
Editor: CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS
Edição: setembro de 2017
Portes
Grátis
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Understand the fundamentals of radio frequency measurement of nanoscale devices with this practical, cross-disciplinary guide. Featuring numerous examples linking theoretical concepts with real-world applications, it is the ideal resource for researchers in both academia and industry new to the field of radio frequency nanoelectronics.

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Measurement Techniques For Radio Frequency Nanoelectronics
de Pavel Kabos e T. Mitch Wallis 
ISBN:
9781107120686
Ano de edição:
09-2017
Editor:
CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS
Idioma:
Inglês
Dimensões:
174 x 247 x 20 mm
Encadernação:
Capa dura
Páginas:
328
Tipo de Produto:
Livro
EAN:
9781107120686
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