Bertrand.pt - Lock-In Thermography

Lock-In Thermography

Basics And Use For Evaluating Electronic Devices And Materials

de Otwin Breitenstein, Martin C. Schubert e Wilhelm Warta 

idioma: Inglês
Editor: Springer International Publishing AG
Edição ou reimpressão: janeiro de 2019
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Lock-in Thermography focuses on this sensitive infrared measurement system that offers a more effective analytical capability. Though mainly covering applications in electronic materials and devices, readers will also find treatment of nondestructive evaluation.

Lock-In Thermography
Basics And Use For Evaluating Electronic Devices And Materials
de Otwin Breitenstein, Martin C. Schubert e Wilhelm Warta 
ISBN: 9783319998244 Ano de edição ou reimpressão: Editor: Springer International Publishing AG Idioma: Inglês Dimensões: 155 x 235 x 20 mm Encadernação: Capa dura Páginas: 321 Tipo de Produto: Livro Coleção: Springer Series In Advanced Microelectronics Classificação Temática: Livros  >  Livros em Inglês  >  Engenharia  >  Engenharia Mecânica

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