Lock-In Thermography

Basics And Use For Evaluating Electronic Devices And Materials

de Otwin Breitenstein, Martin C. Schubert e Wilhelm Warta 

Bertrand.pt - Lock-In Thermography
idioma: Inglês
Editor: Springer International Publishing AG
Edição: janeiro de 2019
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Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems.

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eBook
Lock-In Thermography
Basics And Use For Evaluating Electronic Devices And Materials
de Otwin Breitenstein, Martin C. Schubert e Wilhelm Warta 
ISBN:
9783319998244
Ano de edição:
01-2019
Editor:
Springer International Publishing AG
Idioma:
Inglês
Dimensões:
155 x 235 x 20 mm
Encadernação:
Capa dura
Páginas:
321
Tipo de Produto:
Livro
EAN:
9783319998244
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