Física

Lifetime Spectroscopy

A Method Of Defect Characterization In Silicon For Photovoltaic Applications

de Stefan Rein 

Bertrand.pt - Lifetime Spectroscopy
idioma: Inglês
Editor: SPRINGER-VERLAG BERLIN AND HEIDELBERG GMBH & CO. KG
Edição: junho de 2005
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Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques.

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Lifetime Spectroscopy
A Method Of Defect Characterization In Silicon For Photovoltaic Applications
de Stefan Rein 
ISBN:
9783540253037
Ano de edição:
06-2005
Editor:
SPRINGER-VERLAG BERLIN AND HEIDELBERG GMBH & CO. KG
Idioma:
Inglês
Dimensões:
155 x 235 x 33 mm
Encadernação:
Capa dura
Páginas:
492
Tipo de Produto:
Livro
Coleção:
Springer Series In Materials Science
Classificação Temática:
Livros  >  Livros em Inglês  >  Ciências Exatas e Naturais  >  Física

EAN:
9783540253037
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