Fundamentals Of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

de Jens Lienig, Matthias Thiele e Susann Rothe 

Bertrand.pt - Fundamentals Of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
idioma: Inglês
Editor: Springer International Publishing AG
Edição: fevereiro de 2025
Portes
Grátis
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The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration.

Fundamentals Of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
de Jens Lienig, Matthias Thiele e Susann Rothe 
ISBN:
9783031800221
Ano de edição:
02-2025
Editor:
Springer International Publishing AG
Idioma:
Inglês
Dimensões:
155 x 235 x 20 mm
Encadernação:
Capa dura
Páginas:
167
Tipo de Produto:
Livro
Classificação Temática:
EAN:
9783031800221
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