Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

de Ronald G (Purdue Univ, Usa) Reifenberger 

Bertrand.pt - Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations
idioma: Inglês
Editor: WORLD SCIENTIFIC PUBLISHING CO PTE LTD
Edição: novembro de 2015
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The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution.

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eBook
Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations
ISBN:
9789814630344
Ano de edição:
11-2015
Editor:
WORLD SCIENTIFIC PUBLISHING CO PTE LTD
Idioma:
Inglês
Dimensões:
158 x 238 x 23 mm
Encadernação:
Capa dura
Páginas:
342
Tipo de Produto:
Livro
EAN:
9789814630344
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