Química

Electrical Atomic Force Microscopy For Nanoelectronics

 

Bertrand.pt - Electrical Atomic Force Microscopy For Nanoelectronics
idioma: Inglês
Editor: Springer Nature Switzerland AG
Edição: agosto de 2020
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The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.

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Springer Nature Switzerland
eBook
Electrical Atomic Force Microscopy For Nanoelectronics
ISBN:
9783030156145
Ano de edição:
08-2020
Editor:
Springer Nature Switzerland AG
Idioma:
Inglês
Dimensões:
155 x 235 x 20 mm
Encadernação:
Capa mole
Páginas:
408
Tipo de Produto:
Livro
Coleção:
Nanoscience And Technology
Classificação Temática:
Livros  >  Livros em Inglês  >  Ciências Exatas e Naturais  >  Química

EAN:
9783030156145
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