Engenharia Geral

Digital Holography For Mems And Microsystem Metrology

de Anand (Nanyang Technological University, Singapore) Asundi 

Bertrand.pt - Digital Holography For Mems And Microsystem Metrology
idioma: Inglês
Editor: JOHN WILEY & SONS INC
Edição: julho de 2011
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By taking a practical approach to the industrial inspection of digital holography, Digital Holography for MEMS and Microsystem Metrology offers a description of the use of digital holography and its growing applications for MEMS characterization, residual stress measurement, design and evaluation and device testing and inspection.

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JOHN WILEY & SONS INC
Digital Holography For Mems And Microsystem Metrology
de Anand (Nanyang Technological University, Singapore) Asundi 
ISBN:
9780470978696
Ano de edição:
07-2011
Editor:
JOHN WILEY & SONS INC
Idioma:
Inglês
Encadernação:
Capa dura
Páginas:
228
Tipo de Produto:
Livro
Coleção:
The Wiley Microsystem And Nanotechnology Series
Classificação Temática:
Livros  >  Livros em Inglês  >  Engenharia  >  Engenharia Geral

Livros  >  Livros em Inglês  >  Engenharia  >  Eletricidade e Energia

EAN:
9780470978696
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