Design For Testability, Debug And Reliability

Next Generation Measures Using Formal Techniques

de Rolf Drechsler e Sebastian Huhn 

Bertrand.pt - Design For Testability, Debug And Reliability
idioma: Inglês
Editor: Springer Nature Switzerland AG
Edição: abril de 2022
Portes
Grátis
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This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.

Design For Testability, Debug And Reliability
Next Generation Measures Using Formal Techniques
ISBN:
9783030692117
Ano de edição:
04-2022
Editor:
Springer Nature Switzerland AG
Idioma:
Inglês
Dimensões:
155 x 235 x 20 mm
Encadernação:
Capa mole
Páginas:
164
Tipo de Produto:
Livro
EAN:
9783030692117
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