Characterization In Compound Semiconductor Processing

de Gary E. Mcguire e Yale E. Strausser 

Bertrand.pt - Characterization In Compound Semiconductor Processing
idioma: Inglês
Editor: Momentum Press
Edição: fevereiro de 2010
117,16€
Esgotado ou não disponível

Reviews the common classes of compound semiconductors, their physical, optical and electrical properties and the various types of methods used for characterizing them when analyzing for defects and application problems. This book features: characterization of III-V Thin Films for Electronic and Optical applications.

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Characterization In Compound Semiconductor Processing
de Gary E. Mcguire e Yale E. Strausser 
ISBN:
9781606500415
Ano de edição:
02-2010
Editor:
Momentum Press
Idioma:
Inglês
Dimensões:
155 x 236 x 15 mm
Encadernação:
Capa dura
Páginas:
212
Tipo de Produto:
Livro
EAN:
9781606500415
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