Built-In Fault-Tolerant Computing Paradigm For Resilient Large-Scale Chip Design

A Self-Test, Self-Diagnosis, And Self-Repair-Based Approach

de Xiaowei Li, Cheng Liu e Guihai Yan 

Bertrand.pt - Built-In Fault-Tolerant Computing Paradigm For Resilient Large-Scale Chip Design
idioma: Inglês
Editor: SPRINGER VERLAG, SINGAPORE
Edição: março de 2024
Portes
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The proposed built-in on-chip fault-tolerant computing paradigm has been verified in a broad range of scenarios, from small processors in satellite computers to large processors in HPCs.

Built-In Fault-Tolerant Computing Paradigm For Resilient Large-Scale Chip Design
A Self-Test, Self-Diagnosis, And Self-Repair-Based Approach
ISBN:
9789811985539
Ano de edição:
03-2024
Editor:
SPRINGER VERLAG, SINGAPORE
Idioma:
Inglês
Dimensões:
155 x 235 x 20 mm
Encadernação:
Capa mole
Páginas:
304
Tipo de Produto:
Livro
EAN:
9789811985539
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