Química
Bertrand.pt - Advanced Materials Characterization
idioma: Inglês
Editor: TAYLOR & FRANCIS LTD
Edição: novembro de 2024
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The book covers various methods of characterization of advanced materials commonly used in engineering including understanding of the working principle and applicability of devices. Major instruments covered include X-Ray Diffraction, NSOM Raman, X-Ray Photo Spectroscopy, UV-VIS- NIR Spectrosphotometer, FTIR Spectroscopy, and so forth.

Coleções

Advanced Materials Characterization
Basic Principles, Novel Applications, And Future Directions
de Ram (Nit Jamshedpur, India) Krishna, M. Muralidhar (Madanapalle Institute Of Technology & Science, India) Singh e Ch Sateesh (University Of Johannesburg, South Africa) Kumar 
ISBN:
9781032375113
Ano de edição:
11-2024
Editor:
TAYLOR & FRANCIS LTD
Idioma:
Inglês
Dimensões:
156 x 234 x 20 mm
Encadernação:
Capa mole
Páginas:
130
Tipo de Produto:
Livro
Coleção:
Advanced Materials Processing And Manufacturing
Classificação Temática:
Livros  >  Livros em Inglês  >  Ciências Exatas e Naturais  >  Química

Livros  >  Livros em Inglês  >  Outros

EAN:
9781032375113

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