Vlsi Test Principles And Architectures

Design For Testability

de Cheng-Wen Wu, Laung-Terng Wang e Xiaoqing Wen 

eBook
Bertrand.pt - Vlsi Test Principles And Architectures
idioma: Inglês
Editor: ELSEVIER SCIENCE
Edição: agosto de 2006
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Disponibilidade Imediata
EBOOK PARA ADOBE DIGITAL EDITIONS (ADE)

A comprehensive guide to DFT methods that shows the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume. It provides coverage of design for testability. It presents coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools.

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ELSEVIER SCIENCE
eBook
Vlsi Test Principles And Architectures
Design For Testability
de Cheng-Wen Wu, Laung-Terng Wang e Xiaoqing Wen 
ISBN:
9780080474793
Ano de edição:
08-2006
Editor:
ELSEVIER SCIENCE
Idioma:
Inglês
Tipo de Produto:
eBook
Formato:
PDF para ADE i
Classificação Temática:
EAN:
9780080474793
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O ‘Checkout Expresso’ utiliza os seus dados habituais (morada e/ou forma de envio, meio de pagamento e dados de faturação) para que a sua compra seja muito mais rápida. Assim, não tem de os indicar de cada vez que fizer uma compra. Em qualquer altura, pode atualizar estes dados na sua ‘Área de Cliente’.

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