Next Generation Halt And Hass

Robust Design Of Electronics And Systems

de John J. Paschkewitz e Kirk A. Gray 

eBook
Bertrand.pt - Next Generation Halt And Hass
idioma: Inglês
Editor: WILEY
Edição: março de 2016
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Next Generation HALT and HASS presents a major paradigm shift from reliability prediction-based methods to discovery of electronic systems reliability risks.

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Next Generation Halt And Hass
Robust Design Of Electronics And Systems
de John J. Paschkewitz e Kirk A. Gray 
ISBN:
9781118700204
Ano de edição:
03-2016
Editor:
WILEY
Idioma:
Inglês
Tipo de Produto:
eBook
Formato:
PDF para ADE i
Classificação Temática:
EAN:
9781118700204
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