Lock-In Thermography

Basics And Use For Evaluating Electronic Devices And Materials

de Otwin Breitenstein, Martin C. Schubert e Wilhelm Warta 

eBook
Bertrand.pt - Lock-In Thermography
idioma: Inglês
Editor: Springer International Publishing
Edição: janeiro de 2019
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EBOOK PARA ADOBE DIGITAL EDITIONS (ADE)

Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems.

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Lock-In Thermography
Basics And Use For Evaluating Electronic Devices And Materials
de Otwin Breitenstein, Martin C. Schubert e Wilhelm Warta 
ISBN:
9783319998251
Ano de edição:
01-2019
Editor:
Springer International Publishing
Idioma:
Inglês
Tipo de Produto:
eBook
Formato:
ePUB para ADE i
EAN:
9783319998251
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