Física

Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

Part I: Foundations

de Reifenberger Ronald G Reifenberger 

eBook
Bertrand.pt - Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations
idioma: Inglês
Editor: WORLD SCIENTIFIC PUBLISHING COMPANY
Edição: setembro de 2015
10%
42,40€
Poupe 4,24€ (10%) Cartão Leitor Bertrand
Disponibilidade Imediata
EBOOK PARA ADOBE DIGITAL EDITIONS (ADE)

The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution.

Da mesma coleção

ver +
Civil Engineering And Urban Planning - Proceedings Of The 5th International Conference On Civil Engineering And Urban Planning (Ceup2016)
10%
portes grátis
10% Cartão Leitor Bertrand
588,07€
Poupe 58,81€
WORLD SCIENTIFIC PUBLISHING CO PTE LTD
Fundamentals Of Nanotransistors
10%
10% Cartão Leitor Bertrand
37,10€
WORLD SCIENTIFIC PUBLISHING COMPANY
eBook
Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations
Part I: Foundations
de Reifenberger Ronald G Reifenberger 
ISBN:
9789814630375
Ano de edição:
09-2015
Editor:
WORLD SCIENTIFIC PUBLISHING COMPANY
Idioma:
Inglês
Páginas:
340
Tipo de Produto:
eBook
Coleção:
Lessons From Nanoscience: A Lecture Notes Series
Formato:
ePUB para ADE i
Classificação Temática:
eBooks  >  eBooks em Inglês  >  Ciências Exatas e Naturais  >  Física

eBooks  >  eBooks em Inglês  >  Engenharia  >  Engenharia Geral

EAN:
9789814630375
Acessibilidade:
Ver caracteristicas de acessibilidade indicadas pelo editor
X
O QUE É O CHECKOUT EXPRESSO?

O ‘Checkout Expresso’ utiliza os seus dados habituais (morada e/ou forma de envio, meio de pagamento e dados de faturação) para que a sua compra seja muito mais rápida. Assim, não tem de os indicar de cada vez que fizer uma compra. Em qualquer altura, pode atualizar estes dados na sua ‘Área de Cliente’.

Para que lhe sobre mais tempo para as suas leituras.