Bertrand.pt - Thermal Testing Of Integrated Circuits

Thermal Testing Of Integrated Circuits

de Josep Altet e António Rubio 

idioma: Inglês
Editor: SPRINGER-VERLAG NEW YORK INC.
Edição ou reimpressão: setembro de 2011
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Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art.

Thermal Testing Of Integrated Circuits
ISBN: 9781441952875 Ano de edição ou reimpressão: Editor: SPRINGER-VERLAG NEW YORK INC. Idioma: Inglês Dimensões: 155 x 235 x 20 mm Encadernação: Capa mole Páginas: 204 Tipo de Produto: Livro Coleção: Natural Resource Management And Policy Classificação Temática: Livros  >  Livros em Inglês  >  Engenharia  >  Engenharia Geral
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