Bertrand.pt - Test Generation Of Crosstalk Delay Faults In Vlsi Circuits

Test Generation Of Crosstalk Delay Faults In Vlsi Circuits

de M.C. Bhuvaneswari e S. Jayanthy 

idioma: Inglês
Editor: Springer Nature Customer Service Center GmbH
Edição ou reimpressão: outubro de 2019
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Test Generation Of Crosstalk Delay Faults In Vlsi Circuits
ISBN: 9789811347849 Ano de edição ou reimpressão: 10-2019 Editor: Springer Nature Customer Service Center GmbH Idioma: Inglês Dimensões: 156 x 234 x 20 mm Encadernação: Capa mole Páginas: 170 Tipo de Produto: Livro Coleção: The Urban Book Series Classificação Temática: Livros  >  Livros em Inglês  >  Engenharia  >  Eletricidade e Energia

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