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Lock-In Thermography

Lock-In Thermography

Basics And Use For Evaluating Electronic Devices And Materials

de Otwin Breitenstein, Martin Langenkamp e Wilhelm Warta 

idioma: Inglês
Editor: SPRINGER-VERLAG BERLIN AND HEIDELBERG GMBH & CO. KG
Edição ou reimpressão: novembro de 2012
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Lock-in Thermography focuses on this sensitive infrared measurement system that offers a more effective analytical capability. Though mainly covering applications in electronic materials and devices, readers will also find treatment of nondestructive evaluation.

Lock-In Thermography
Basics And Use For Evaluating Electronic Devices And Materials
ISBN: 9783642264788 Ano de edição ou reimpressão: Editor: SPRINGER-VERLAG BERLIN AND HEIDELBERG GMBH & CO. KG Idioma: Inglês Dimensões: 155 x 235 x 18 mm Encadernação: Capa mole Páginas: 258 Tipo de Produto: Livro Coleção: Springer Series In Advanced Microelectronics Classificação Temática: Livros  >  Livros em Inglês  >  Engenharia  >  Engenharia Geral
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O QUE É O CHECKOUT EXPRESSO?


O ‘Checkout Expresso’ utiliza os seus dados habituais (morada e/ou forma de envio, meio de pagamento e dados de faturação) para que a sua compra seja muito mais rápida. Assim, não tem de os indicar de cada vez que fizer uma compra. Em qualquer altura, pode atualizar estes dados na sua ‘Área de Cliente’.

Para que lhe sobre mais tempo para as suas leituras.