Bertrand.pt - Kelvin Probe Force Microscopy

Kelvin Probe Force Microscopy

From Single Charge Detection To Device Characterization

 

idioma: Inglês
Editor: Springer International Publishing AG
Edição ou reimpressão: março de 2018
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Grátis
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116,00€
Sujeito a confirmação no Editor
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Kelvin Probe Force Microscopy
From Single Charge Detection To Device Characterization
ISBN: 9783319756868 Ano de edição ou reimpressão: Editor: Springer International Publishing AG Idioma: Inglês Dimensões: 155 x 235 x 20 mm Encadernação: Capa dura Páginas: 521 Tipo de Produto: Livro Coleção: Springer Series In Surface Sciences Classificação Temática: Livros  >  Livros em Inglês  >  Outros

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