Bertrand.pt - Fundamentos de Metrologia

Fundamentos de Metrologia

Científica e Industrial

de Armando Albertazzi G. Jr. 

idioma: Português do Brasil, Português
Editor: Editora Manole
Edição ou reimpressão: setembro de 2008
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Este livro foi concebido como material de apoio para o ensino da metrologia, para atender às necessidades dos cursos de graduação e pós-graduação em engenharia, ciências exatas e afins. Tornou-se também um material de apoio para cursos de educação continuada e para pessoas autodidatas. Resultou do amadurecimento e da evolução das notas de aula compiladas ao longo de quase 20 anos de atividades docentes dos autores. A apresentação dos tópicos segue uma seqüência progressiva e intuitiva, desenhada para favorecer a compreensão do assunto e conduzir o leitor à aplicação consciente da metrologia em favor do aumento da confiabilidade do trabalho experimental.

Fundamentos de Metrologia
Científica e Industrial
de Armando Albertazzi G. Jr. 
ISBN: 9788520421161 Ano de edição ou reimpressão: Editor: Editora Manole Idioma: Português do Brasil, Português Dimensões: 156 x 224 x 23 mm Encadernação: Capa mole Páginas: 407 Tipo de Produto: Livro Classificação Temática: Livros  >  Livros em Português  >  Ciências Exatas e Naturais  >  Matemática

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