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Electrical Atomic Force Microscopy For Nanoelectronics

 

idioma: Inglês
Editor: Springer Nature Switzerland AG
Edição ou reimpressão: agosto de 2019
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The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.

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Electrical Atomic Force Microscopy For Nanoelectronics
ISBN: 9783030156114 Ano de edição ou reimpressão: 08-2019 Editor: Springer Nature Switzerland AG Idioma: Inglês Dimensões: 155 x 235 x 20 mm Encadernação: Capa dura Páginas: 408 Tipo de Produto: Livro Coleção: Nanoscience And Technology Classificação Temática: Livros  >  Livros em Inglês  >  Ciências Exatas e Naturais  >  Química

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