Eletricidade e Energia

Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies

de Alvin W. Strong, Ernest Y. Wu, Rolf-Peter Vollertsen, Iii Stewart E. Rauch, Giuseppe La Rosa, Timothy D. Sullivan e Jordi Sune 

eBook
Bertrand.pt - Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies
idioma: Inglês
Editor: WILEY
Edição: outubro de 2009
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Disponibilidade Imediata
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This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience.

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Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies
de Alvin W. Strong, Ernest Y. Wu, Rolf-Peter Vollertsen, Iii Stewart E. Rauch, Giuseppe La Rosa, Timothy D. Sullivan e Jordi Sune 
ISBN:
9780470455258
Ano de edição:
10-2009
Editor:
WILEY
Idioma:
Inglês
Tipo de Produto:
eBook
Coleção:
Ieee Press Series On Microelectronic Systems
Formato:
PDF para ADE i
Classificação Temática:
eBooks  >  eBooks em Inglês  >  Engenharia  >  Eletricidade e Energia

EAN:
9780470455258
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