Engenharia Geral

Interfacial Compatibility In Microelectronics

Moving Away From The Trial And Error Approach

de Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Jorma Kivilahti, Markus Turunen, Toni T. Mattila e Mervi Paulasto-Krockel 

eBook
Bertrand.pt - Interfacial Compatibility In Microelectronics
idioma: Inglês
Editor: SPRINGER LONDON
Edição: janeiro de 2012
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EBOOK PARA ADOBE DIGITAL EDITIONS (ADE)

This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.

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Interfacial Compatibility In Microelectronics
Moving Away From The Trial And Error Approach
de Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Jorma Kivilahti, Markus Turunen, Toni T. Mattila e Mervi Paulasto-Krockel 
ISBN:
9781447124702
Ano de edição:
01-2012
Editor:
SPRINGER LONDON
Idioma:
Inglês
Tipo de Produto:
eBook
Coleção:
Microsystems
Formato:
PDF para ADE i
Classificação Temática:
eBooks  >  eBooks em Inglês  >  Engenharia  >  Engenharia Geral

EAN:
9781447124702
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