High Performance Memory Testing

Design Principles, Fault Modeling And Self-Test

de R. Dean Adams 

eBook
Bertrand.pt - High Performance Memory Testing
idioma: Inglês
Editor: SPRINGER US
Edição: dezembro de 2005
10%
171,59€
Poupe 17,16€ (10%) Cartão Leitor Bertrand
Disponibilidade Imediata
EBOOK PARA ADOBE DIGITAL EDITIONS (ADE)

Memory applications and the number of designs and the sheer number of bits on each design are critical. Based on the author's experience in memory design, memory reliability development and memory self test, this book is written for professionals and researchers, helping them understand the memories that are tested.

Da mesma coleção

Timing Performance Of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
10%
portes grátis
10% Cartão Leitor Bertrand
148,70€
Poupe 14,87€
Springer Nature Switzerland AG
Timing Performance Of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
10%
10% Cartão Leitor Bertrand
145,09€
Poupe 14,51€
Springer International Publishing
eBook
High Performance Memory Testing
Design Principles, Fault Modeling And Self-Test
de R. Dean Adams 
ISBN:
9780306479724
Ano de edição:
12-2005
Editor:
SPRINGER US
Idioma:
Inglês
Tipo de Produto:
eBook
Formato:
PDF para ADE i
Classificação Temática:
EAN:
9780306479724
X
O QUE É O CHECKOUT EXPRESSO?

O ‘Checkout Expresso’ utiliza os seus dados habituais (morada e/ou forma de envio, meio de pagamento e dados de faturação) para que a sua compra seja muito mais rápida. Assim, não tem de os indicar de cada vez que fizer uma compra. Em qualquer altura, pode atualizar estes dados na sua ‘Área de Cliente’.

Para que lhe sobre mais tempo para as suas leituras.