Eletricidade e Energia

Defect-Oriented Testing For Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits

de Jose Pineda De Gyvez e Manoj Sachdev 

eBook
Bertrand.pt - Defect-Oriented Testing For Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits
idioma: Inglês
Editor: SPRINGER US
Edição: junho de 2007
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Disponibilidade Imediata
EBOOK PARA ADOBE DIGITAL EDITIONS (ADE)

Presents the work on defect-oriented testing. This book is useful for test and design practitioners from academia and industry.

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Springer International Publishing
eBook
Defect-Oriented Testing For Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits
de Jose Pineda De Gyvez e Manoj Sachdev 
ISBN:
9780387465470
Ano de edição:
06-2007
Editor:
SPRINGER US
Idioma:
Inglês
Tipo de Produto:
eBook
Coleção:
Frontiers In Electronic Testing
Formato:
PDF para ADE i
Classificação Temática:
eBooks  >  eBooks em Inglês  >  Engenharia  >  Eletricidade e Energia

EAN:
9780387465470
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