Cmos Sram Circuit Design And Parametric Test In Nano-Scaled Technologies

Process-Aware Sram Design And Test

de Manoj Sachdev e Andrei Pavlov 

eBook
Bertrand.pt - Cmos Sram Circuit Design And Parametric Test In Nano-Scaled Technologies
idioma: Inglês
Editor: SPRINGER NETHERLANDS
Edição: junho de 2008
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EBOOK PARA ADOBE DIGITAL EDITIONS (ADE)

Covers a broad range of topics related to SRAM design and test. This book places emphasis on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.

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eBook
Cmos Sram Circuit Design And Parametric Test In Nano-Scaled Technologies
Process-Aware Sram Design And Test
de Manoj Sachdev e Andrei Pavlov 
ISBN:
9781402083631
Ano de edição:
06-2008
Editor:
SPRINGER NETHERLANDS
Idioma:
Inglês
Tipo de Produto:
eBook
Formato:
PDF para ADE i
Classificação Temática:
EAN:
9781402083631
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